mezureX
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surface scan · calibrating
  Conçu à Paris · Intelligence industrielle dopée à l'IA

DETECT.MEASURE.CONTROL.

MezureX combine vision par ordinateur, lumière structurée et traitement intelligent du signal pour faire de l'inspection de surface une couche temps-réel et data-driven de chaque ligne de production.

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Détection plus rapide
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Taux de précision
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Réduction des coûts
01Le défi_

La plupart des industriels reposent encore sur l'inspection manuelle, lente et coûteuse, ou sur des systèmes de métrologie prohibitifs qui ne passent pas à l'échelle.

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Systèmes coûteux

Les équipements de métrologie traditionnels coûtent des centaines de milliers d'euros, rendant le contrôle qualité avancé inaccessible à la majorité des industriels.

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Inspection manuelle lente

Les inspecteurs humains ne contrôlent qu'une fraction de la production, créant des goulots d'étranglement et laissant passer des défauts.

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Qualité réactive

Les systèmes actuels détectent les problèmes après coup, générant gaspillage, reprises et arrêts de production coûteux.

02Notre produit_

Le système de détection de défauts de surface dopé à l'IA qui met le contrôle qualité avancé à la portée de chaque industriel.

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Scan de surface automatisé

Le scan par lumière structurée haute résolution capture chaque détail de surface en temps réel pendant que les pièces défilent.

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Détection par IA

Des modèles de deep learning entraînés sur mesure identifient rayures, bosses, contamination et anomalies avec une précision d'expert humain.

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Réponse en temps réel

Les défauts sont signalés instantanément, permettant une intervention immédiate avant que les pièces défectueuses ne quittent la ligne.

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Apprentissage continu

Le système s'améliore en continu, apprend de nouveaux motifs de défauts et réduit automatiquement les faux positifs.

03Technologie_

Notre pile technologique intégrée combine le meilleur de la détection optique, du machine learning et du traitement du signal.

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Vision par ordinateur

Systèmes optiques avancés et réseaux de neurones convolutifs analysent textures, reflets et géométries pour détecter des anomalies invisibles à l'œil nu.

Résolution sub-micronique
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Lumière structurée

Des motifs lumineux projetés créent des cartes 3D de surface, révélant variations de hauteur, rayures et bosses avec une précision extraordinaire sur tout matériau.

Reconstruction 3D
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Traitement du signal

L'analyse multi-spectrale et les algorithmes de filtrage isolent les vrais défauts du bruit de surface pour une détection constante quelles que soient les conditions.

99,7 % de clarté du signal
04Pourquoi MezureX_

Nous ne construisons pas seulement des outils d'inspection — nous transformons la façon dont les industriels pensent la qualité.

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Économique

Une fraction du coût des systèmes de métrologie classiques. Une inspection de niveau industriel sans le prix industriel.

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Surveillance temps réel

Détectez les défauts au moment où ils apparaissent. Fini les problèmes qualité découverts après l'expédition de milliers de pièces.

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Accessible à tous

Conçu pour les industriels de toutes tailles. Du petit atelier aux grandes usines, le contrôle qualité avancé est désormais à portée.

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Amélioration continue

Transformez les données d'inspection en décisions concrètes. Suivez les tendances, optimisez les procédés et améliorez durablement la qualité.

04L'équipe_

MM
Murukesh Muralidhar
Fondateur & CEO · Docteur en Physique
Docteur en PhysiqueBasé à Paris, France

Physicien et ingénieur R&D aérospatial, Murukesh a passé plusieurs années en recherche à l'ENS de Lyon et au CEA Saclay, à concevoir des bancs d'essai de précision et à étudier la propagation des ondes dans les systèmes élastiques. Il a fondé MezureX pour apporter à l'industrie la même rigueur scientifique qu'à la recherche avancée.

LinkedIn
UJ
Unnimaya Jayakrishnan
Co-fondatrice & CTO · Automatisation industrielle
MTech Automatisation, NIT Calicut (Inde)Basée à Paris, France

Ingénieure spécialisée en énergie et automatisation industrielle (MTech, NIT Calicut), Unnimaya conçoit l'architecture matérielle et l'automatisation derrière DefectX — de l'acquisition par lumière structurée au traitement temps réel sur la ligne.

LinkedIn
Conçu au programme Fighters — STATION F
05Contact_

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